自動(dòng)介損測(cè)試儀 介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等，在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線(xiàn)路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線(xiàn)路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線(xiàn)路組成。測(cè)量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。

自動(dòng)介損測(cè)試儀 介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x特別適用于：

1. 敷設(shè)后電纜的高阻擊穿點(diǎn)，特別是難以燒成低阻的線(xiàn)性高阻擊穿點(diǎn)，如電纜中間接頭的線(xiàn)性高阻擊穿。

2. 閃絡(luò)型擊穿點(diǎn)，擊穿后恒流源能維持電弧，有穩(wěn)定電流通過(guò)電橋，電橋有足夠的靈敏度。

3. 尚未擊穿，但電阻偏低的缺陷點(diǎn)，如用兆歐表發(fā)現(xiàn)電纜阻值較低，但運(yùn)行電壓下不擊穿的絕緣缺陷點(diǎn)。

由于上述特點(diǎn)，高壓電橋故障測(cè)試儀為下述幾類(lèi)用戶(hù)所青睞：

1. 從事專(zhuān)業(yè)定位的電纜修試隊(duì)伍：如大中型供電局及大型用電企業(yè)的電纜修試班。大部分的電纜擊穿點(diǎn)均可用高壓電橋故障測(cè)試儀迅速找到大致的擊穿位置，與我公司DT系列波反射法測(cè)距儀及DL系列定點(diǎn)儀配合使用，各取所長(zhǎng)，使定位更快更可靠。