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介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀低頻更新時(shí)間：2024-07-13型號(hào)：GDAT-S廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：998介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀低頻介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角（D或tanδ） 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
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陶瓷介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-13型號(hào)：GDA-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：832陶瓷介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測(cè)值偏低
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塑料介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-13型號(hào)：GDA廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1061塑料介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀本電橋額定的工作頻率f=50Hz，在實(shí)際工作頻率偏離額定頻率時(shí)可用修正式進(jìn)行修正： tg=f’·tgδ / f 式中：f 為額定工作頻率（f=50Hz） f’ 為實(shí)際工作頻率 tgδ 電橋測(cè)得損耗值 tgδ 為被測(cè)試品介質(zhì)損耗角正切的實(shí)際值
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液體介電常數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-13型號(hào)：GDA-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：935
液體介電常數(shù)測(cè)試儀全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
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介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-13型號(hào)：GDA-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1010
介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀 作為 新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi) 高的160MHz。 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
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